時間:2020-02-21
作者:易科泰
點擊量:
簡介:
DragonFly LIBS元素分析系統(tǒng)
DragonFly,旨在通過支持擴展、面向科研的設計,實現(xiàn)最強的通用性,讓使用者盡享LIBS技術(shù)的最強優(yōu)勢

對于通常較難檢測的樣品,比如鋼材中的C元素、巖土材料中的F元素、混凝土材料中的Cl元素、電池中的Li元素檢測等,Dragonfly都能實現(xiàn)優(yōu)秀的檢測效果。
DragonFly為靈活、易于擴展的模塊化設計,獨具1-1300 mbar全自動連續(xù)控制的真空反應室、激光脈沖波長自動切換功能;此外可選配紫外真空模塊,解決了多種譜線在可見光區(qū)域互相干擾的特殊情況。DragonFly支持靈活訂制,更多例如雙激發(fā)、多激發(fā)方案、多光路采集等----請聯(lián)系我們共同討論,與您共同實現(xiàn)最具性價比和針對性的配置方案。
應用領域
● 植物、土壤、地質(zhì)、金屬、塑料、生物材料的元素檢測;
● 元素分布成像(mapping);
● 多層剖面元素測量;
● 動植物的有害金屬/重金屬的脅迫響應;
● 標記物、納米顆粒檢測

主要特點
● 1-1300 mbar 真空反應室;
● 吹氣模塊和主動抽吸模塊;
● 3軸自動移動操作臺;
● 顯微樣品觀測和環(huán)狀4段獨立照明;
● 激光聚焦光斑自動調(diào)整;
● 8通道內(nèi)置數(shù)字延時發(fā)生器;
● 氣體吹掃和氣體抽吸適配器;
● 單激發(fā)/雙激發(fā)DPSS激光器;
● 最快測量速度100HZ;
● Echelle/Czerny-Turner光譜儀;
● iCCD/EMCCD/SCMOS/CMOS檢測器可選
儀器參數(shù)
DragonFly標準配置選項見下表。主要配置可根據(jù)需求和預算做針對性選擇,實現(xiàn)最優(yōu)性價比。
DragonFly支持靈活訂制,請聯(lián)系我們溝通您的配置方案。

LIBS技術(shù)原理和優(yōu)勢


DragonFly應用案例:
1. 應用雙激發(fā)LIBS技術(shù)對蠶豆幼苗根部納米銀顆粒分布mapping分析
根部對于植物養(yǎng)分供應、保護植物避免受到過量金屬離子的毒害方面發(fā)揮著重要作用,但是根部元素分析的難度要遠遠大于對莖部組織,原因包括:根通常要比莖和芽細小很多;干物質(zhì)含量小很多,為樣品切割帶來很大不便;通常待分析元素相對含量較低;而柔軟多汁的樣品如何保持其結(jié)構(gòu)形狀以得到元素分布的正確結(jié)果,同樣是個難題。
針對上述挑戰(zhàn),在本案例中進行了成功的探索 --- 應用雙激發(fā)LIBS技術(shù)對蠶豆幼苗根部納米銀顆粒(直徑為21.7±2.3 nm)進行mapping分析,目標是對自然狀態(tài)下的植物組織進行元素檢測,獲得高mapping分辨率的同時確保檢測靈敏度。這同時也是整個LIBS領域中,對植物根部納米顆粒分布情況的初次嘗試。

Cu+溶液處理蠶豆幼苗根橫切不同分辨率下mapping結(jié)果:100μm、75μm、50μm

Cu2+、Ag+、AgNPs處理7日后的蠶豆幼苗根部橫切的顯微圖像和元素mapping對應結(jié)果

不同濃度Cu2+溶液【a) 100 μmol l?1 Cu2+;b)50 μmol l?1 Cu2+;c) 10μmol l?1 Cu2+; d) 0 μmol l?1 Cu2+】處理蠶豆幼苗根橫切mapping結(jié)果;e)樣品區(qū)特征譜線;f)Cu2+濃度降低,其對應譜線強度也依次降低
實驗結(jié)論:
LIBS技術(shù)檢測速度快;即使對直徑只有2mm的幼根,也可對其橫切面中的金屬離子及金屬納米顆粒分布進行mapping分析,檢測的精確度和圖像分辨率足以滿足實驗需求。應用雙激發(fā)技術(shù),Mapping分辨率可達到50μm,足以區(qū)分根表皮層、皮層、中柱中的元素分布特征。
此外,7天的短時間處理即可檢測結(jié)果,說明對自然環(huán)境中、自然養(yǎng)分條件下的植物來說,LIBS 元素mapping也是元素分布檢測行之有效的實驗方法,因此將是植物生理學和環(huán)境毒理學領域中的有效應用。
引自:Krajcarová L, Novotny K, Kummerová M, J. Dubová J, Gloser V, Kaiser J. Mapping of the spatial distribution of silver nanoparticles in root tissues of Vicia faba by laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) [J], Talanta 173 (2017) 28–35.)